Пост канала
- фото
🇺🇸 Американская компания Teradyne представила Magnum E2, новую систему тестирования высокоскоростной памяти DRAM и NAND Magnum E2 рассчитана на тестирование памяти с интерфейсами LPDDR6, DDR6 и GDDR7, а также высокоскоростной NAND-памяти для корпоративных SSD. Система предназначена как для квалификационных испытаний и разработки тестовых программ, так и для крупносерийного производства на единой аппаратной и программной платформе. 🆕 Основное отличие Magnum E2 от предыдущих решений Teradyne связано с увеличением числа высокоскоростных каналов и параллельности тестирования. Система поддерживает до 64 одновременно тестируемых устройств и до 24,5 тыс. высокоскоростных линий ввода-вывода. 🪢 В основе Magnum E2 используется архитектура Near-DUT Test, при которой цифровые измерительные модули размещаются максимально близко к тестируемому устройству. Сокращение длины высокоскоростных сигнальных линий позволяет уменьшить искажения сигнала и сохранить точность измерений при тестировании памяти на рабочих частотах. 🔍 Система поддерживает несколько способов кодирования сигнала: • NRZ, применяемый в существующих интерфейсах памяти; • PAM3, используемый в новых поколениях высокоскоростной DRAM; • PAM4 для перспективных интерфейсов с еще более высокой пропускной способностью. Программируемый генератор тестовых последовательностей позволяет адаптировать одну аппаратную платформу к различным стандартам DRAM и NAND без замены самого тестера. Magnum E2 также получила встроенные средства тестирования логических схем. Это позволяет на одной платформе проверять как память, так и логические элементы в составе более сложных полупроводниковых устройств и сокращать число отдельных операций тестирования. #ЭлМаш #технологии
Открыть в MAX- Просмотры
- 105
- ER
- —
- Реакции
- —